JCM-6000PLUS桌上型扫描电镜
显微镜＋影像观察＋成份分析＋尺规量测
EDS支援点丶线扫丶面(Mapping)成份分析，功能强大操作简单。
按下分析键即可打开EDS视窗。EDS支援定性/定量分析，从单点元素分析丶线元素分析丶面元素分析(元素分布图)。JCM-6000Plus可搭载JEOL独有的固态半导体EDS，能在影观察的任一时刻提供即时元素分析。選擇分析點影像位置，按下分EDS析鍵，兩個動作即可進行EDS成份分析、元素定性/定量分析。
多点成份分析
当您在图像上选择多个点的成份分析，系统会依序自动分析选取点的元素成分，显示分析图谱。您可在完成分析後比较分析图谱。
面扫Mapping全影像成份分析
使用MAP键即可开启面扫(Mapping)功能，面扫功能可以清楚了解分析区域内的元素二维分布状况。并俱有下列优势：
1.创建各个元素分布的浓度二维彩色空间分布图像，图像中颜色代表该元素的浓度。
2.随时新增任何元素的浓度分布二维图。
3.选择图像中部份区域来观察EDS图谱，了解该区域全成分分析结果与各个元素所占百分比。
4.重叠各元素分布的二维图谱，从而了解个元素分布的所在位置与相互关系。
分析助理程序，引导您一步一步完成MAPPING分析。
分析助理程序可以引导操作人员依序完成分析，包括线成份分析丶面成分份析(成分图)。当您在分析助理程序中选择一种分析模式，系统会显示所需要的分析步骤，视窗中显示的分析按进，会逐步引导操作人员完成分析。
1.选择MAP
2.选择分析分析图像
3.选择分析条件
4.选择分析元素
5.确认分析条件
6.开始分析
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